對高頻工作的電子電路特性的正確表征提出了一些讀特的要求。在高頻之下,工作波長(cháng)與電路元件的實(shí)際尺寸相當,從而導致電路性能的分布特性。與其描述特定電路節點(diǎn)處的電壓和電流,不如描述傳輸介質(zhì)之中的電波如何與其路徑之中的元件對應。網(wǎng)絡(luò )分析儀是為了準確、高xiao地表征射頻元件隨頻率變化的特性而研制的儀器。
網(wǎng)絡(luò )分析儀是在所研究的頻率范圍之內,通過(guò)激勵響應試驗,建立線(xiàn)性網(wǎng)絡(luò )傳輸和或阻抗特性數據模型的過(guò)程。在高于1MHz的頻率之下,集總元件實(shí)際上變成了一個(gè)由基本元件和寄生現象(如雜散電容、引線(xiàn)電感和未知吸收損耗)組成的“電路”。由于寄生現象依賴(lài)于不同的器件及其結構,因此很難預測。當頻率高于1GHz時(shí),可以將器件的幾何尺寸與信號波長(cháng)進(jìn)行比較,從而增強器件結構引起的電路性能變化。網(wǎng)絡(luò )分析通常緊限于確定線(xiàn)性網(wǎng)絡(luò )。由于受線(xiàn)性條件的限制,正弦波輸出是由正弦波激勵的網(wǎng)絡(luò )產(chǎn)生的,因此正弦波測試是表征其幅相隨頻率變化的理想方法。